Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Reliability characteristics of vertical pin diodes on Si and GaN substrates for high-power applications

 
: Gupta, Rohit
: Ambacher, Oliver; Quay, Rüdiger; Driad, Rachid

Freiburg/Brsg., 2020, 95 pp.
Freiburg/Brsg., Univ., Master Thesis, 2020
English
Master Thesis
Fraunhofer IAF ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-605842.html