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Title
Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung einer dünnwandigen Struktur auf Basis einer tomographischen Ultraschallwellenanalyse
Date Issued
2018
Author(s)
Patent No
102016221739
Abstract
Beschrieben wird ein Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung einer dünnwandigen Struktur auf Basis einer tomographischen Ultraschallwellenanalyse, bei dem an die dünnwandige Struktur zwei Ultraschallwandler-Arrays in einem Abstand zueinander zum Aussenden und Empfangen von geführten Ultraschallwellen längs der dünnwandigen Struktur angeordnet werden und mit denen die Struktur durchschallt und transmittierende Ultraschallwellenanteile erfasst werden, auf deren Grundlage eine Prüfinformation von der dünnwandigen Struktur rekonstruiert wird.Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass in einem ersten Durchschallungsvorgang die Struktur mit geführten Ultraschallwellen wenigstens einer ersten Art durchschallt wird und die Struktur transmittierende und/oder in der Struktur reflektierende Ultraschallwellenanteile bezüglich ihrer Phasen- und Gruppengeschwindigkeiten und/oder Amplitude detektiert werden. In einem zweiten Durchschallungsvorgang wird die Struktur mit geführten Ultraschallwellen wenigstens einer zweiten Art durchschallt, wobei die Struktur transmittierende und/oder in der Struktur reflektierende Ultraschallwellenanteilen bezüglich ihrer Phasen- und Gruppengeschwindigkeiten und/oder Amplitude detektiert werden. Im Weiteren werden die Phasen- und Gruppengeschwindigkeiten und/oder Amplituden der detektierten Ultraschallwellenanteile der geführten Ultraschallwellen erster und zweiter Art der Rekonstruktion zugrunde gelegt, wobei sich die geführten Ultraschallwellen der ersten und zweiten Art in wenigstens einer der nachfolgenden Eigenschaften unterscheiden: Wellenlänge, Frequenz, Wellentyp, Wellenmode.
Language
de
Patenprio
DE 102016221739 A1: 20161107