Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Recent advances in electron tomography: TEM and HAADF-STEM tomography for materials science and semiconductor applications

 
: Kübel, C.; Voigt, A.; Schoenmakers, R.; Otten, M.; Su, D.; Lee, T.-C.; Carlsson, A.; Bradley, J.

:

Microscopy and microanalysis 11 (2005), No.5, pp.378-400
ISSN: 1431-9276
English
Journal Article
Fraunhofer IFAM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-49089.html