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Simulation and experimental investigation of slew rate related ESD failures of CDM and CC-TLP

 
: Weber, Johannes; Kaschani, Karim T.; Gieser, Horst; Wolf, Heinrich; Maurer, Linus; Famulok, Nicolai; Moser, Reinhard; Rajagopal, Krishna; Sellmayer, Michael; Sharma, Anmol; Tamm, Heiko

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Fulltext urn:nbn:de:0011-n-4817968 (1.9 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: 6d4f3cd3d3bf72bf089e71abb6015b71
Created on: 10.2.2018


Gottschalk, A.:
15. ESD Forum 2017. Tagungsband : Vorträge gehalten auf dem 15. ESD-Forum in München, 23. - 25. Oktober 2017
Nördlingen: ESD, 2017
ISBN: 978-3-9813357-3-5
pp.79-88
ESD Forum <15, 2017, München>
English
Conference Paper, Electronic Publication
Fraunhofer EMFT ()
ESD; CDM; CC-TLP; Capacitively Coupled Transmission Line Pulsing; failure threshold; correlation; rise time

Abstract
This paper investigates critical stress factors concerning the correlation between CDM and Capacitively Coupled Transmission Line Pulsing (CC-TLP). Starting from poorly reproducible test results of three different CDM testers, we examined the question if this can be resolved by the contact-mode test method CC-TLP and thereby analyzed in particular the impact of the current slew rate on the failure threshold. In addition to this explicit analysis of the CDM and CC-TLP correlation, a generalized parameter simulation study is presented.

 

Dieses Paper untersucht kritische Belastungsfaktoren für die Korrelation zwischen CDM und Capacitively Coupled Transmission Line Pulsing (CC-TLP). Ausgehend von unzureichend reproduzierbaren Testergebnissen von drei verschiedenen CDM-Testsystemen wurde untersucht, ob dies mit Hilfe der kontaktbasierten Methode CC-TLP erklärt werden kann. Dabei wurde insbesondere der Einfluss der Anstiegsgeschwindigkeit des Stroms auf den Ausfallschwellwert analysiert. Neben der expliziten Untersuchung der CDM/CC-TLP-Korrelation an diesem Beispiel, wird eine verallgemeinerte Parametersimulationsstudie diskutiert.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-481796.html