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Verfahren und Vorrichtung zur Elementanalyse mittels Laser-Emissionsspektrometrie

Elemental analysis of materials by laser emission spectrometry, involves directing laser beam by optical beam-shaping element towards material sample and in material sample, and inducing plasma by laser beam.
 
: Sturm, V.

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DE 102005000840 A: 20050105
DE 2005-102005000840 A: 20050105
DE 102005000840 A1: 20060720
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer ILT ()

Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Elementanalyse von Materialien mittels Laser-Emissionsspektrometrie, bei der mit einem Laserstrahl ein Plasma in einer Materialprobe angeregt und eine vom Plasma ausgehende optische Emission erfasst und spektral ausgewertet wird. Bei dem vorliegenden Verfahren wird der Laserstrahl durch ein optisches Strahlformungselement auf die Materialprobe gerichtet, das auf oder in der Materialprobe eine Verteilung einer Leistungsdichte ueber einen Strahlquerschnitt des Laserstrahls mit einer Vielzahl von Intensitaetsspitzen erzeugt. Mit dem vorliegenden Verfahren und der zugehoerigen Vorrichtung kann eine mittlere Elementkonzentration einer Probe mit inhomogener Elementverteilung schneller und genauer bestimmt werden, als dies nach dem Stand der Technik moeglich ist.

 

DE1005000840 A UPAB: 20060825 NOVELTY - The process involves a laser beam (2, 4, 7) which induces a plasma (8) in a material sample (9) whereby optical emissions (14) emanating from the plasma are evaluated spectrally. The laser beam is directed by an optical beam-shaping element (6) towards the material sample and in the material sample, distribution of power density over beam width of laser beam produces multiple intensity points. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is also included for a device for the elemental analysis of materials. USE - Used for the elemental analysis of materials by laser emission spectrometry. ADVANTAGE - The process ensures accurate and faster determination of element concentration of the material medium.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-45965.html