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Title
Vorrichtung und Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung
Date Issued
2016
Author(s)
Patent No
102015209578
Abstract
Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur entfernungsaufgelösten Bestimmung eines physikalischen Parameters in einer Messumgebung unter Nutzung einer zerstörungsfreien Prüftechnik mit wenigstens einem Mikrowellen-Sensor-Paar, das einen ersten und zweiten Mikrowellen-Sensor umfasst, die in einem ersten vorgegebenen Abstand zueinander längs einer gemeinsamen Messebene angeordnet sind und jeweils eine Sende- und Empfangsapertur aufweisen, die innerhalb eines der Messumgebung zugewandten Halbraumes überlappen, einem ortsauflösenden optischen Sensor mit einer zumindest teilweise den Bereich der überlappenden Sende- und Empfangsaperturen des wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paars erfassenden Sensorapertur, einer Datenerfassungseinheit, die in einer Datenverbindung mit dem wenigstens einen Mikrowellen-Sensor-Paar sowie dem ortsauflösenden optischen Sensor steht, in der Mikrowellen-Sensor-Daten sowie optische Sensordaten erfassbar sind sowie einer Auswerteinheit, in der die erfassten Mikrowellen-Sensor-Daten auf der Grundlage der optischen Sensordaten zur entfernungsaufgelösten Bestimmung des physikalischen Parameters auswertbar sind.
Language
de
Patenprio
DE 102015209578 A1: 20150526