Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Streulichtanalyse zur Prüfung auf Nanopartikel-Fraktionen

Erstes System zur kostengünstigen Vor-Ort-Überwachung
 
: Frese, Ines; Bantz, Christoph; Nolde, J.; Reisinger, M.; Heinemann, M.; Affolter, O.

Sensor-Magazin (2016), No.5, pp.34-36
ISSN: 0945-6899
German
Journal Article
Fraunhofer ICT-IMM ()
Streulichtanalyse; nanoparticle; silica nanoparticles

Abstract
Das Fraunhofer ICT-IMM entwickelte im Auftrag und in Kooperation mit dem Industriekonsortium SASforREACH einen Aufbau zur Streulichtanalyse, der es Auftragslaboratorien ermöglicht, mit geringem personellem und finanziellem Aufwand kleinste nanopartikuläre Fraktionen in wässrigen Lösungen aufzuspüren. Interessant ist dies z. B. für Löslichkeitsuntersuchungen an synthetisch amorphen Silica-Produkten, einem Anwendungsbeispiel für die Klasse der nanostrukturierten Materialien. Gleichzeitig öffnet es die Tür für eine kostengünstige Vor-Ort-Überwachung der Nanopartikel-Belastung im Wasser.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-426277.html