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2016
Journal Article
Titel
Streulichtanalyse zur Prüfung auf Nanopartikel-Fraktionen
Titel Supplements
Erstes System zur kostengünstigen Vor-Ort-Überwachung
Abstract
Das Fraunhofer ICT-IMM entwickelte im Auftrag und in Kooperation mit dem Industriekonsortium SASforREACH einen Aufbau zur Streulichtanalyse, der es Auftragslaboratorien ermöglicht, mit geringem personellem und finanziellem Aufwand kleinste nanopartikuläre Fraktionen in wässrigen Lösungen aufzuspüren. Interessant ist dies z. B. für Löslichkeitsuntersuchungen an synthetisch amorphen Silica-Produkten, einem Anwendungsbeispiel für die Klasse der nanostrukturierten Materialien. Gleichzeitig öffnet es die Tür für eine kostengünstige Vor-Ort-Überwachung der Nanopartikel-Belastung im Wasser.