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Verfahren zum Charakterisieren von Mikrowellenbauelementen

Method for characterizing microwave components
 
: Seelmann-Eggebert, Matthias

:
Frontpage ()

DE 102014119331 A1: 20141222
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IAF ()

Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Charakterisieren von Mikrowellenbauelementen, insbesondere zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren zur kalibrierten Messung von elektronischen Mikrowellenbauelementen, welches Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst: A Messen von S-Parametern einer Anzahl N von Kalibrationsstandards, welche Anzahl N von Kalibrationsstandards grösser ist als für eine analytische Bestimmung der durch die Kalibration ermittelbaren Kalibrationsparameter notwendig; B Berechnen der Kalibrationsparameter abhängig von den gemessenen S-Parametern der Kalibrationsstandards.; Wesentlich ist, dass das Berechnen der Kalibrationsparameter in Verfahrensschritt B auf der Grundlage eines Gleichungssystems abhängig von vorgegebenen SKal-Parametern der Kalibrationsstandards erfolgt, und in einem Verfahrensschritt C nach dem Verfahrensschritt B ein Gütekriterium der Kalibrationsparameter bestimmt wird.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-405041.html