Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Impact of layer thickness variations of SOI-wafer on ESD-robustness

 
: Graf, M.; Dietz, F.; Dudek, V.; Bychikhin, S.; Pogany, D.; Gornik, E.; Soppa, W.; Wolf, H.

IEEE Electron Devices Society:
25th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium 2003. Proceedings : Las Vegas, Nevada, September, 21 - 25, 2003
Rome, NY: ESD Association, 2003
ISBN: 1-585-37057-6
ISBN: 978-1-5853-7057-3
pp.116-121
Annual International Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) <25, 2003, Las Vegas/Nev.>
English
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-39400.html