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  4. HOT-300 - a multidisciplinary technology approach targeting microelectronic systems at 300 °C operating temperature
 
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2016
Conference Paper
Title

HOT-300 - a multidisciplinary technology approach targeting microelectronic systems at 300 °C operating temperature

Abstract
Several applications in the fields of industrial sensors and power electronics are creating a demand for high operating temperature of 300 °C or even higher. Due to the increased temperature range new potential defect risks and material interactions have to be considered. As a consequence, innovation in semiconductor, devices and packaging technologies has to be accompanied by dedicated research of the reliability properties. Therefore various investigations on realizing high temperature capable electronic systems have shown that a multidisciplinary approach is necessary to achieve highly reliable solutions. In the course of the multi-institute Fraunhofer internal research program HOT-300 several aspects of microelectronic systems running up to 300 °C have been investigated like SOI-CMOS technology and circuits, silicon capacitor devices, a capacitive micromachined ultrasonic transducer (CMUT), ceramic substrates and different packaging and assembly techniques. A ceramic molded package has been developed. Die attach on different leadframe alloys were investigated using silver sintering and transient liquid phase bonding (TLPB). Copper and gold wire bonding was studied and used to connect the chips with the package terminals. Investigations in flip chip technology were performed using Au/Sn and Cu/Sn solder bumps for transient liquid phase bonding. High operating temperatures result in new temperature driven mechanisms of degradation and material interactions. It is quite possible that the thermomechanical reliability is a limiting factor for the technology to be developed. Therefore investigations on material diagnostics, reliability testing and modeling have been included in the project, complementing the technology developments.
Author(s)
Vogt, Holger
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Altmann, Frank  
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS  
Braun, Sebastian  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Celik, Yusuf
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Dietrich, Lothar  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Dietz, Dorothee
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Dijk, Marius van  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Dreiner, Stefan  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Döring, Ralf  
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Gabler, Felix
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Goehlich, Andreas
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Hutter, Matthias  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Ihle, Martin  
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS  
Kappert, Holger  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Kordas, Norbert  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Kokozinski, Rainer  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Naumann, Falk  
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS  
Nowak, Torsten
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Oppermann, Hermann  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Partsch, Uwe  orcid-logo
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS  
Petzold, Matthias  
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS  
Roscher, Frank  
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Rzepka, Sven  
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Schubert, Ralph  
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS  
Weber, Constanze  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Wiemer, Maik  
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Wittler, Olaf  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Ziesche, Steffen  
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS  
Mainwork
International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics, HiTEC 2016  
Conference
International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics (HiTEC) 2016  
DOI
10.4071/2016-HITEC-1a
Language
English
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS  
Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Keyword(s)
  • High temperature

  • SOI CMOS

  • Silicon capacitors

  • MEMS

  • Ceramic substrates

  • Polymer ceramic

  • LTCC

  • Wafer level packaging

  • Transient liquid phase bonding

  • Ag sintering

  • reliability

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