Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Grazing incidence x-ray studies of twist-bonded Si/Si and Si/SiO2 interfaces

 

:

Physica. B 283 (2000), No.1-3, pp.103-107
ISSN: 0921-4526
English
Journal Article
Fraunhofer IZFP, Institutsteil Dresden ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-37728.html