Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

A wafer-level test platform for statistical TEM analysis of the structural properties of integrated carbon nanotubes

 
: Hartmann, M.; Hermann, S.; Pohl, D.; Rellinghaus, B.; Schulz, S.E.

Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft 50 (2015), No.3
ISSN: 0420-0195
ISSN: 0372-5448
Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG Jahrestagung) <79, 2015, Berlin>
Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG Frühjahrstagung) <2015, Berlin>
English
Abstract
Fraunhofer ENAS ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-372268.html