Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Aging behavior of AlGaA/GaN HFETs with advanced ohmic and Schottky contacts

 
: Hilsenbeck, J.; Nebauer, E.; Wurfl, J.; Trankle, G.; Obloh, H.

:

Electronics Letters 36 (2000), No.11, pp.980-981
ISSN: 0013-5194
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Journal Article
Fraunhofer IAF ()