Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Zuverlässigkeitskonzepte von "Mikro bis Nano" - Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik

 
: Michel, B.

Zengerle, R. ; Bundesministerium für Bildung und Forschung -BMBF-; Verband der Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik -VDE-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 : 10. bis 12. Oktober 2005 in Freiburg
Berlin: VDE-Verlag, 2005
ISBN: 3-8007-2926-1
ISBN: 978-3-8007-2926-5
pp.161-164
Mikrosystemtechnik Kongress <2005, Freiburg>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-34919.html