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Verfahren und Anordnung zum Erfassen von optischen Brechzahlen oder deren Änderungen

 
: Derenko, Susan; Härtling, Thomas

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DE 102013015065 A1: 20130909
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IKTS ()

Abstract
Mit der vorliegenden Erfindung wird ein einfaches auf lokalisierten Oberflächenplasmonen basiertes Verfahren vorgeschlagen, das mit einer minimalen Sensorkonfiguration durchführbar ist. Dabei wird mit Hilfe von monochromatischem Licht innerhalb eines vorgegebenen Wellenlängenbereichs (W), das auf ein optisch transparentes Medium mit bekannter optischer Brechzahl (1) und mindestens ein optisch transparentes Medium mit unbekannter und/oder veränderlicher optischer Brechzahl (2) gerichtet wird, durch eine in Strahlrichtung (6) des monochromatischen Lichts hinter den optisch transparenten Medien (1/2) angeordnete metallische optisch transparente Schicht mit plasmonisch aktiver Oberflächenstrukturierung zur Ausbildung lokalisierter Oberflächenplasmonen (3) transmittiert.; Das jeweils transmittierte Licht wird zur Erfassung der Intensität auf jeweils einen optischen Detektor (5.1/5.2) gerichtet, wobei die für das in das optisch transparente Medium mit bekannter optischer Brechzahl (1) eingekoppelte Licht erfasste transmittierte Intensität I1 und die für das in das mindestens eine optisch transparente Medium mit unbekannter und/oder veränderlicher Brechzahl (2) eingekoppelte Licht erfasste transmittierte Intensität I2 und/oder die jeweils daraus bestimmten Extinktionen E1 und E2 jeweils mit Referenzwerten verglichen werden, für die die transmittierten Intensitäten und/oder die jeweils daraus bestimmten Extinktionen von optisch transparenten Medien mit bekannter unterschiedlicher Brechzahl im vorgegebenen Wellenlängenbereich (W) bekannt sind.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-337499.html