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2003
Diploma Thesis
Titel
Messtechnische Untersuchungen zur Rastersondenmikroskopischen Struktur- und Rauheitsanalyse über ausgedehnte Ortsfrequenzbereiche für die Vermessung von Oberflächen und Schichten mit Nanometerstrukturen
ThesisNote
Zwickau, FH, Dipl.-Arb., 2003
Verlagsort
Zwickau