Fraunhofer-Gesellschaft

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Vergleichende Untersuchungen zum Schimmelpilzwachstum auf verschiedenen Baustoffoberflächen - materialspezifische Wachstumsisoplethen

 
: Hofbauer, W.; Breuer, K.; Tschaikner, A.; Krus, M.; Sedlbauer, K.; Schoch, T.

:
Fulltext urn:nbn:de:0011-n-285560 (437 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: da2ceb790d9409747391bf3eb0be1d06
Created on: 26.01.2006


IBP-Mitteilung 32 (2005), No.457, 2 pp.
ISSN: 9990-1390
German
Journal Article, Electronic Publication
Fraunhofer IBP ()

Abstract
Schimmelpilzbildung auf Wandinnenoberflachen stellt aufgrund einer moglichen Gesundheitsgefahrdung eine ernst zu nehmende Problematik dar. Die Erfahrung zeigt, dass unterschiedliche Baustoffe auch eine unterschiedliche Disposition gegenüber unerwünschtem Aufwuchs haben. Die hier vorgestellten Arbeiten sollen die experimentellen Möglichkeiten und erste Ergebnisse zur temperatur- und luftfeuchteabhängigen Bestimmung des Schimmelpilzrisikos von verschiedenen Materialien (bzw. Bauteilen) aufzeigen. Um die Randbedingungen möglichst genau zu erfassen und zu kontrollieren, wurde ein besonderer Prüfstand entwickelt. Ein wesentliches Ziel der Untersuchungen war es, diese Materialien durch sogenannte Isopletensysteme zu differenzieren.
Mit Hilfe derartiger, sowohl für das Einzelmaterial als auch für Bauteile/Materialverbünde bestimmter, Isoplethensysteme wird es in Zukunft möglich sein, gezielter maßgeschneiderte Materialverbesserungen (unter Einbeziehung von Daten über die chemische Zusammensetzung) zu erreichen. Die Untersuchungsergebnisse werden auch für die Ermittlung des Schimmelpilzrisikos und die Beurteilung von Sanierungsmaßnahmen
mit Hilfe eines neu entwickelten Berechnungsverfahrens herangezogen werden.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-28556.html