Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Verformungsmessung an elektronischen Bauteilen und Baugruppen mit Grauwertkorrelation und Holografie

 
: Steiert, Matthias; Zeiser, Roderich; Berndt, Michael; Wilde, Jürgen; Beckmann, Tobias; Fratz, Markus

Lang, K.-D. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2014 : Von Hochstrom bis Hochintegration; Vorträge der 7. DVS/GMM-Tagung in Fellbach am 11. und 12. Februar 2014
Düsseldorf: DVS Media, 2014 (DVS-Berichte 301)
ISBN: 978-3-87155-573-2
pp.159-165
Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <7, 2014, Fellbach>
German
Conference Paper
Fraunhofer IPM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-283649.html