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Probenpositioniereinrichtung und Verfahren zu ihrem Betrieb

SAMPLE POSITIONING DEVICE AND METHOD FOR OPERATION THEREOF
 
: Nutsch, Andreas; Holfelder, I.; Fliegauf, Rolf; Weser, J.; Beckhoff, B.

:
Frontpage ()

DE 102012000736 A1: 20120116
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IISB ()

Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine Probenpositioniereinrichtung (23, 24, 25) mit einem Probenhalter (14, 22), an dem eine Probe (5) befestigbar ist, wobei der Probenhalter mittels einer ersten Dreheinrichtung (14, 15) um eine erste Achse (1a) drehbar ist, wobei die erste Dreheinrichtung mittels einer ersten Verschiebeeinrichtung (16, 17) auf dem um eine zweite Achse (3a) drehbaren Teil (18) einer zweiten Dreheinrichtung gelagert ist, wobei die zweite Achse (3a) zur ersten Achse (1a) im Wesentlichen kolinear ist und wobei die erste Verschiebeeinrichtung (16, 17) eine translatorische Bewegung der ersten Dreheinrichtung gegenüber der zweiten Dreheinrichtung derart ermöglicht, dass der Abstand zwischen der ersten Achse (1a) und der zweiten Achse (3a) veränderbar ist.; Durch die genannte Kombination zweier Dreheinrichtungen mit einer Verschiebeeinrichtung kann ein zu untersuchender Probenbereich in den Untersuchungsbereich einer Messeinrichtung gebracht und dort nachfolgend beliebig orientiert werden. Der genannte Aufbau ermöglicht eine Handhabung der Probe mit minimalen Mitteln auf engstem Raum.

 

The invention relates to a sample positioning device (23, 24, 25) with a sample holder (14, 22) on which a sample (5) can be mounted, wherein the sample holder can be rotated about a first axis (1a) by means of a first rotational device (14, 15), wherein the first rotational device is supported by means of a first displacement device (16, 17) on the part (18) of a second rotational device that is rotatable about a second axis (3a), wherein the second axis (3a) is substantially collinear with the first axis (1a) and the first displacement device (16, 17) enables a translational movement of the first rotational device relative to the second rotational device in such a way that the distance between the first axis (1a) and the second axis (3a) is variable. By means of the aforementioned combination of two rotational devices and a displacement device, an area of the sample to be examined can be brought into the examination area of a measuring device and thereafter be oriented arbitrarily therein. The aforementioned structure allows the sample to be manipulated with minimal means and in the smallest of spaces.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-270908.html