Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Experimentelle und numerische Untersuchungen zur Lebensdauerabschätzung von Durchkontaktierungen in Leiterplatten

 
: Schacht, R.; Nowak, T.; Walter, H.; Wunderle, B.; Abo Ras, M.; May, D.; Wittler, O.; Lang, K.-D.

Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2012. CD-ROM : Hochentwickelte Baugruppen in Europa, 6. DVS/GMM-Tagung vom 14. bis 15. Februar 2012 in Fellbach
Berlin: VDE-Verlag, 2012 (GMM-Fachbericht 71)
ISBN: 978-3-8007-3403-0
pp.237-242
Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <6, 2012, Fellbach>
German
Conference Paper
Fraunhofer ENAS ()
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-270717.html