Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Eine systematische Entwurfsmethode zur Sicherstellung der elektromagnetischen Zuverlässigkeit in Mikrosystemen

A systematic design method for securing the electromagnetic reliability in microsystems
 
: Ndip, I.; Fotheringham, G.; Guttowski, S.; Reichl, H.

Gonschorek, K.-H. ; MESAGO Messe Frankfurt GmbH, Stuttgart:
EMV 2010, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit : 09.-11. März 2010, Messe Düsseldorf
Berlin: VDE-Verlag, 2010
ISBN: 978-3-8007-3206-7
Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) <2010, Düsseldorf>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-263625.html