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Title
Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Ausrichtung von Messapparaturen zu Punkstrahlern
Date Issued
2004
Author(s)
Stenzel, R.
Stolpe, H.
Roehle, H.
Patent No
2003-10302752
Abstract
Fuer die Grundcharakterisierung von Punktstrahlern ist es notwendig, Messapparaturen in einer speziellen Ausrichtung zum Punktstrahler zu positionieren. Die korrekte Ausrichtung zur Messapparatur soll automatisch und nur anhand des Abstrahlungsfeldes des Punktstrahlers erfolgen. Diese Notwendigkeit ergibt sich daraus, dass das Abstrahlungsverhalten/-feld und die Grundposition des zu charakterisierenden Punktstrahlers sehr unterschiedlich sein kann. Zur automatischen Ausrichtung der Messapparatur (3) zum zu charakterisierenden Punktstrahler (1) sind um die Eintrittsoeffnung der Messapparatur (3) in definiertem Abstand vier opto-elektronische Wandler (2a bis 2d) zur Positionierung angeordnet. Die Position der Messapparatur (3) zum Punktstrahler (1) oder des Punktstrahlers (1) zur Messapparatur (3) ist in seinen Koordinaten zueinander veraenderbar. An der Messapparatur (3) kann eine Einheit zur Auswertung des Abstrahlungsfeldes (4) des Punktstrahlers (1) angeschlossen sein. Durch Auswerten der Lichtintensitaets-Unterschiede bei den opto-elektronischen Wandlern (2a bis 2d) wird die Messeinrichtung (2; 3) solange horizontal und vertikal verschoben, bis der Schwerpunkt (5) der Lichtintensitaet des Abstrahlungsfeldes (4) des Punktstrahlers (1) in der Mitte zwischen den Wandlern (2a bis 2d) und somit im Zentrum der Eintrittsoeffnung der Messapparatur (3) liegt. Die Messapparatur (3) kann ein optisches Instrument wie ein Laser Interface Isolator oder eine Ulbrichtkugel sein. Die ...
DE 10302752 A UPAB: 20040907 NOVELTY - Device for alignment of apparatuses with point emitters has a measurement apparatus (3) with an inlet opening (6) that has at least three measurement receivers (2a-2d) at defined distances for positioning measurements. The relative position of the measurement apparatus and point emitter (1) can be changed relative to each other. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIMS is also included for the method of automatic alignment of measurement apparatuses with point emitters. USE - Automatic alignment of measurement apparatuses with point emitters, e.g. for use with measurement of time of flight, GPS or radar systems, determination of phase differences or incidence angles. ADVANTAGE - Provides an exact alignment of the measurement apparatus to the point emitter, so that the emitted beam fully hits the measuring apparatus.
Language
de
Patenprio
DE 2003-10302752 A: 20030124