Vorrichtung und Verfahren zum Auffinden von Fehlstellen, insbesondere in Form von Materialrissen, in einem rotationssymmetrischen Pruefling aus einem zumindest metallische Materialanteile aufweisenden Werkstoff

Beschrieben wird eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zum Auffinden von Fehlstellen, insbesondere in Form von Materialrissen oder Oberflaechendefekten, in einem rotationssymmetrischen Pruefling aus einem zumindest metallische Materialanteile aufweisenden Werkstoff, mit wenigstens zwei elektromagnetischen Ultraschallwandlern (EMUS), die beabstandet voneinander zur elektroakustischen Kopplung mit einer Oberflaeche des Prueflings in Kontakt stehen, von denen ein Ultraschallwandler als Sender und der andere Ultraschallwandler als Empfaenger dient, sowie mit einer Auswerteeinheit, die zumindest mit dem als Empfaenger dienenden Ultraschallwandler verbunden ist. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass die elektromagnetischen Ultraschallwandler horizontal polarisierte Transversalwellen (SH-Wellen) zu Erzeugen und/oder Nachzuweisen in der Lage sind, dass die Ultraschallwandler ueber eine zweiseitige Richtcharakteristik verfuegen, und dass die Ultraschallwandler in einer gemeinsamen Querschnittsebene durch den rotationssymmetrischen Pruefling an einer frei zugaenglichen Oberflaeche des Prueflings angeordnet sind.

DE 10304270 A UPAB: 20041001 NOVELTY - Ultrasonic device for detecting surface defects, e.g. cracks, in at least partially metallic components, e.g. pipes. The inventive device comprises electromagnetic ultrasonic transmitter and ultrasonic receiver (EMUS). The transmitter emits horizontally polarized, or surface, transverse waves that are detected by the receiver. The waves are transmitted in both directions. Transmitter and receiver are positioned in the same plane of the test piece. USE - Non-destructive detection of surface defects in metallic components, especially pipes, using electromagnetic ultrasonic transducers. ADVANTAGE - Use of transverse surface waves means a whole pipe section can be examined without the probes having to be scanned over the whole surface.