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Reducing the impact of process variations on the sensitivity of CMOS photodiodes
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2012
Book Article
Titel
Reducing the impact of process variations on the sensitivity of CMOS photodiodes
Author(s)
Hochschulz, Frank
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Dreiner, Stefan
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Vogt, Holger
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Paschen, Uwe
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Hauptwerk
Fraunhofer-Institute for Microelectronic Circuits and Systems. Annual Report 2011
Language
English
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Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS