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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Measurement uncertainties in thermoelectric materials
 
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2010
Conference Paper
Title

Measurement uncertainties in thermoelectric materials

Author(s)
Jacquot, Alexandre
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Pernau, Hans-Fridtjof  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
König, Jan  
Nussel, Ulrike
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Bartel, Markus  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Ebling, Dirk
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Jägle, Martin  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Mainwork
ECT 2010. Online proceedings  
Conference
European Conference on Thermoelectrics (ECT) 2010  
Language
English
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)

  • 3Omega

  • 2Omega

  • IPM-SR

  • IPM-S-screening

  • measurement system

  • thermoelectric

  • power factor

  • Seebeck coefficient

  • van der Pauw

  • hall

  • thermal conductivity

  • thin film

  • ZT-meter

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