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Verfahren zur Herstellung einer Messspitze für ein Rastersondenmikroskop sowie Messsonde mit nach diesem Verfahren hergestellter Messspitze

METHOD FOR PRODUCING A MEASURING TIP FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING PROBE HAVING A MEASURING TIP PRODUCED ACCORDING TO SAID METHOD
 
: Smirnov, W.; Kriele, A.; Williams, O.

:
Frontpage ()

DE 102010035931 A
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IAF ()

Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer Messspitze fuer ein Rastersondenmikroskop, bei welchem auf einer zumindest bereichsweise mit Diamant beschichteten bestehenden Messspitze fuer das entsprechende Mikroskop aus der Diamantschicht zumindest eine Diamantnadel hergestellt wird, die ueber die bestehende Messspitze hinaus steht. Die Anmeldung betrifft ausserdem eine Messsonde mit einer nach diesem Verfahren hergestellten Messspitze.

 

The invention relates to a method for producing a measuring tip for a scanning probe microscope, in which on an existing measuring tip for the corresponding microscope, at least some areas of which measuring tip are coated with diamond, at least one diamond needle is produced from the diamond coating, wherein said needle protrudes beyond the existing measuring tip. The application also relates to a measuring probe having a measuring tip produced according to said method.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-214395.html