Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Beschreibung topografischer Defekte. Deflektometrie zur Inspektion spiegelnder Oberflächen

 
: Heizmann, Michael; Werling, Stefan

Qualität und Zuverlässigkeit : QZ 57 (2012), No.5, pp.92-94
ISSN: 0033-5126
ISSN: 0720-1214
German
Journal Article
Fraunhofer IOSB ()
Deflektor; Inspektionssystem; Oberflächeneigenschaft; optisches Messverfahren; spiegelnde Reflexion

Abstract
Die Qualitätsbewertung von Karosserieteilen oder Außenspiegeln erfolgt oft über die spiegelnde Reflexion. Um die Inspektion zu automatisieren, können deflektometrische Verfahren eingesetzt werden. Dabei beobachtet eine Kamera das Spiegelbild eines bekannten Musters und zieht Rückschlüsse auf die Oberflächeneigenschaften anhand der Verformungen der Spiegelbilder. Das Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB) hat Inspektionssysteme und Messverfahren sowie Algorithmen entwickelt, die einen Einsatz der Deflektometrie zur Bewertung von spiegelnden Oberflächen im industriellen Maßstab ermöglicht. Durch die Kombination eines Bildschirms mit Kamera entsteht ein deflektometrischer Sensorkopf, der entlang der zu prüfenden Oberfläche geführt werden kann. Wird dagegen die gesamte Umgebung der Oberfläche mithilfe von Beamern mit Mustern versehen, sieht die Kamera die Reflexion in der gesamten Oberfläche, sodass Defekte auch in großflächigen und zerklüfteten Prüfobjekten erkennbar werden. Wird ein Muster im thermischen Infrarot-Bereich verwendet, lassen sich auch matt erscheinende Oberflächen inspizieren. Damit können lackierte Blechoberflächen über den gesamten Herstellungsweg mit einer Messmethode analysiert werden. Um die thermische Deflektometrie anwenden zu können, müssen Monitore oder Beamer für veränderliche thermische Muster entwickelt werden. Für die Datenauswertung stehen verschiedene Möglichkeiten zur Verfügung. Auch eine Rekonstruktion der gesamten Oberfläche ist möglich. Die deflektometrische Geometrieerfassung kann topografische Defekte großflächig mit hoher Auflösung erfassen und geometrisch beschreiben, es können 3D-Modelle generiert werden und das erhaltene flächige Oberflächenprofil mittels Verfahren der Texturanalyse auf stochastische oder systematische Unebenheiten inspiziert werden.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-203851.html