Fraunhofer-Gesellschaft

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Reinheitsvalidierung von technischen Oberflächen

Vortrag gehalten auf der SRRT Frühjahrstagung 2012 und Generalversammlung, Oberflächen im Reinraum, 19. April 2012, Winterthur
 
: Kreck, Guido

:
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MD5 Fingerprint: 333de96f76a1f89a01999e005cc3b392
Created on: 1.6.2012


2012, 25 Folien
Schweizerische Gesellschaft für Reinraumtechnik (SRRT Frühjahrstagung) <2012, Winterthur>
Schweizerische Gesellschaft für Reinraumtechnik (Generalversammlung) <2012, Winterthur>
German
Presentation, Electronic Publication
Fraunhofer IPA ()
Partikelzähler; REM-Auszählmethode; Rasterelektronenmikroskopie; CO2-Reinigung; Bauteilsauberkeit; Reinheit; Kontamination; Rasterelektronenmikroskop

Abstract
Die Reinheit von Produkten wird für unterschiedlichste Branchen ein immer wichtigerer Aspekt: Die Medizin verdankt neue Therapiemöglichkeiten bspw. zu einem großen Teil den Medizinprodukten, die höchste Reinheitsanforderungen erfüllen müssen. Die Reinheit der Medizintechnikprodukte und damit die auf den Patienten ausgehenden Risiken können mit den aktuell angewandten Verfahren allerdings nur unzureichend validiert werden. Am Beispiel einer Kanüle wird gezeigt, wie ein quantitatives Verfahren zur Validierung des partikulären Reinheitszustandes von Medizinprodukten in Anlehnung an die Bestimmung der Technischen Sauberkeit nach VDA Band 19 aussehen kann. An Zahnimplantaten wird gezeigt, wie die organische Reinheit nach einer Reinigung mit überkritischem Kohlendioxid bestimmt werden kann.
In der Raumfahrt spielt Reinheit ebenfalls eine wichtige Rolle, zum einen, um die Leistungsfähigkeit bspw. von optischen Linsen zu garantieren, zum anderen, um Fehlinterpretationen bei der Suche nach außerirdischem Leben durch die Verschleppung von irdischen Kontaminationen zu vermeiden. Die daraus resultierenden, sehr hohen Reinheitsanforderungen können nur durch Reinigungsverfahren erreicht werden. Am Beispiel des CO2-Schneestrahlverfahrens wird gezeigt, wie eine quantitative Bewertung der Reinigungseffizienz durch automatisierte Partikelauszählung mit dem Rasterelektronenmikroskop erfolgen kann. Um die Reinigungsergebnisse wiederum schnell auf beliebige Partikelarten zu übertragen, wird ein neuer Ansatz der Ermittlung der Partikelhaftkraft, dem bestimmenden Faktor der Abreinigungsfähigkeit von Partikeln, mit Rasterelektronenmikroskop, Mikromanipulator und Kraft-Federtisch beschrieben.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-203668.html