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Konferenzschrift
Vorstellung eines verbesserten dreidimensionalen Nahfeld-Scanners zur automatischen Störfestigkeits- und Störabstrahlungsanalyse im Automotiv-Umfeld
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2010
Conference Paper
Titel
Vorstellung eines verbesserten dreidimensionalen Nahfeld-Scanners zur automatischen Störfestigkeits- und Störabstrahlungsanalyse im Automotiv-Umfeld
Author(s)
Mager, T.
Hedayat, Christian
Reinhold, C.
Schubert, G.
Hauptwerk
EMV 2010, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
Konferenz
Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) 2010
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS