Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Vorstellung eines verbesserten dreidimensionalen Nahfeld-Scanners zur automatischen Störfestigkeits- und Störabstrahlungsanalyse im Automotiv-Umfeld

 
: Mager, T.; Hedayat, C.; Reinhold, C.; Schubert, G.

Gonschorek, K.-H. ; MESAGO Messe Frankfurt GmbH, Stuttgart:
EMV 2010, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit : 09.-11. März 2010, Messe Düsseldorf
Berlin: VDE-Verlag, 2010
ISBN: 978-3-8007-3206-7
pp.161-168
Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) <2010, Düsseldorf>
German
Conference Paper
Fraunhofer ENAS ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-203345.html