Fraunhofer-Gesellschaft

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Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil

 
: Hahn, Daniel; Straube, Stefan; Middendorf, Andreas; Lochner, Helmut; Abelein, Ulrich; Lang, Klaus-Dieter

Informationstechnische Gesellschaft -ITG-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Gesellschaft für Informatik -GI-, Bonn:
Zuverlässigkeit und Entwurf : 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg
Berlin: VDE-Verlag, 2011 (ITG-Fachbericht 231)
ISBN: 978-3-8007-3357-6
pp.126-127
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (Fachtagung) <5, 2011, Hamburg-Harburg>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

Abstract
Im Hinblick auf die zukünftige Elektrifizierung des Automobils unterliegen Steuergeräte und deren Komponenten er- höhten Anforderungen. In dieser im Rahmen des BMBF geförderten Projektes RESCAR 2.0 entstandenen Arbeit wird ein Ansatz einer Methode vorgestellt, in der ausgehend von den Anforderungen im Automobil Beanspruchungen hin- sichtlich relevanter Fehlermechanismen abgeleitet und damit bewertbar gemacht werden sollen. Der Einfluss der geän- derten Randbedingungen wird am Beispiel der Elektromigration erläutert. Entsprechend variierender Randbedingungen werden für die Darstellung des Einflusses geeignete Lebensdauermodelle identifiziert und angewendet. Allgemeines Ziel ist die Möglichkeit zukünftige Anforderungsprofile zu erarbeiten und für den entsprechenden Entwicklungs- und Produktionsprozess hinreichend zu validieren.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-191064.html