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2010
Journal Article
Titel
Tiefer Einblick in versteckte Orte
Titel Supplements
Lichtwellenleiterbasierte Messtechnik für hochgenaue Formmessung
Abstract
Vorgestellt wird ein lichtwellenleiterbasiertes Messsystem für die hochgenaue Formmessung, das die Messung in eingeschränkten Bauräumen wie Bohrungen oder an empfindlichen Bauteiloberflächen ermöglicht. Es basiert auf den Prinzip der kurzkohärenten Interferometrie und besteht aus einem faserbasierten und einem Freistrahl-Interferometer. Der Messaufbau wird beschrieben und es werden Anwendungsbeispiele für die hochgenaue faseroptische Formmessung vorgestellt wie Rundheitsprüfung in Mikrobohrung, Rundheits- und Rundlaufprüfung von Zahnrädern, Qualitätsprüfung in Ventilen und Düsenkörpern, Rundheits- und Rundlaufprüfung an strukturierten Wellen und an strukturierten Schleifscheiben.
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