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Hierarchische, statistische Analyse analoger Schaltungen

Hierarchical, statistical analysis of analogue circuits
 
: Sohrmann, Christoph; Jancke, Roland; Haase, Joachim

:
Preprint urn:nbn:de:0011-n-1863954 (638 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 0ec9176afd7306a3b956c0f639655592
Created on: 12.8.2014


VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-; Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen -IIS-, Erlangen:
ANALOG 2011. Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden, Schwerpunkt: Entwurf eingebetteter Sensorsysteme : Beiträge der 12. GMM/ITG-Fachtagung vom 7. bis 9. November 2011 in Erlangen
Berlin: VDE-Verlag, 2011 (GMM-Fachbericht 70)
ISBN: 978-3-8007-3369-9
pp.55-60
Fachtagung Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG) <12, 2011, Erlangen>
German
Conference Paper, Electronic Publication
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()

Abstract
Die bei der Prozessierung mikroelektronischer Systeme auftretenden Schwankungen führen auf Chiplevel zu schwankenden Eigenschaften der Bauteile, Bauteilegruppen, Blöcke wie auch der Gesamtschaltung. Solche prozessbedingten Variationen nehmen mit abnehmender Strukturgröße zu und gewinnen daher stetig an Bedeutung für Zuverlässigkeit und Ausbeute. Bei der Behandlung statistischer Effekte wird meist Corner- und Monte-Carlo-Simulation herangezogen. Dazu werden Schwankungsinformationen auf Technologie- bzw. Transistorlevel verwendet. Sehr große Schaltungen lassen sich auf SPICE-Ebene meist kaum im Nominalpunkt simulieren und entziehen sich somit einer detaillierten Monte-Carlo-Analyse. Dieser Beitrag stellt eine hierarchische Modellierungsmethodik unter Berücksichtigung statistischer Schwankungen vor. Dabei werden parametrisierte, statistische Verhaltensmodelle von Teilschaltungen erstellt, welche das statistische Verhalten um den Nominalpunkt korrekt wiedergeben und dadurch eine schnelle Gesamtsystemsimulation auf Verhaltensmodellbasis ermöglichen.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-186395.html