Fraunhofer-Gesellschaft

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Einsatz von Bidirektionalen Mikrodisplays in der Messtechnik als invers-konfokaler Sensor

 
: Großmann, C.; Zwick, S.; Perske, F.; Baumgarten, J.; Richter, B.; Wartenberg, P.; Herold, R.; Brenner, S.; Vogel, U.; Riehemann, S.; Notni, G.; Tünnermann, A.

Schlaak, H.F. ; Bundesministerium für Bildung und Forschung -BMBF-, Deutschland; Verband der Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik -VDE-:
MikroSystemTechnik Kongress 2011 : 10.-12. Oktober 2011, Darmstadt
Berlin: VDE-Verlag, 2011
ISBN: 978-3-8007-3367-5
pp.425-428
Konferenz "Systems Integration - Mikrosystemtechnik-Lösungen im Gebäude der Zukunft" <4, 2011, Dortmund>
MikroSystemTechnik Kongress <2011, Darmstadt>
German
Conference Paper
Fraunhofer IOF ()

Abstract
Konventionelle optische Messsysteme basieren auf separierter Projektions- und Kameratechnik. Der Einsatz von neuartigen opto-elektronischen Bauelementen - sogenannten bidirektionalen Mikrodisplays (BiMid) - verspricht ein großes Potential zur Miniaturisierung von Messsystemen. Diese Elemente ermöglichen die Kombination von OLED zur Lichterzeugung sowie Photodioden (PD) zur Detektion auf einem äußert kompakten Bauelement.
Eine erste Anwendung soll hierbei ein Positions- und Neigungssensor basierend auf dem Prinzip eines invers-konfokalen Sensors darstellen. Hierbei wird das von den OLED-Pixeln emittierte Licht in die Fokusebene abgebildet und die Reflexion von den integrierten PD detektiert. Befindet sich die Messebene im Fokus, so kann keine Energie detektiert. BiMids ermöglichen auf diese Weise die äußerst kompakte Realisierung eines neuartigen invers-konfokalen Punktsensors, welcher als Positions- bzw. Neigungssensor angewandt werden kann. Dieser ist durch die CMOS-Struktur auf einfache Weise auf einen kompakten Flächensensor erweiterbar.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-185674.html