Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Quantitative assessment of TEM-sample warping caused by FIB preparation

 
: Salzer, R.; Graff, A.; Simon, M.; Altmann, F.

:

Microscopy and microanalysis 16 (2010), S2, pp.172-173
ISSN: 1431-9276
Microscopy and Microanalysis <2010, Portland>
English
Abstract
Fraunhofer IWM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-180424.html