Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern

 
: Braun, C.; Guidi, P.; Krauthäuser, H.G.; Nitsch, J.; Schmidt, H.; Taenzer, A.

Schwab, A. ; MESAGO Messe Frankfurt GmbH, Stuttgart:
Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV 2000
Berlin: VDE-Verlag, 2000
ISBN: 3-8007-2522-3
pp.573-580
Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) <8, 2000, Düsseldorf>
German
Conference Paper
Fraunhofer INT ()
Digital-Elektronik; Einplatinen-Industrie-PC; Prozessor-Platine; gepulste Hochleistungs-Mikrowellen; Pulsparameter; HPM; INT-TEM-Wellenleiter; Moden-Verwirbelungs-Kammer; Ausfall-Schwellwerte; Stör-Schwellwerte; Fehlermechanismus; digital electronic; single board computer; autonomous computer board; all-in-one CPU; high power microwave; TEM wave-guide; mode-stirred chamber; reverberating enclosure; failure threshold; disturbance threshold; failure mechanism

Abstract
Zur Untersuchung der Gefährdung moderner Digital-Elektronik durch Hochleistungs-Mikrowellen wurden Testschaltungen aus modernen Einplatinen-Industrie-PCs mit Hochleistungs-Prozessoren aufgebaut, die vollkommen ohne Leitungsverbindungen arbeiten. Die Stromversorgung erfolgt über Akkumulatoren, die Datenverbindungen über Lichtwellenleitern. An diesen Testschaltungen wurden im INT-TEM-Wellenleiter und in der Moden-Verwirbelungs-Kammer der Universität Magdeburg Stör- und Ausfall-Schwellwerte mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen im Frequenzbereich 0,15...3,4 GHz ermittelt. Weiterhin konnten Vergleiche von Meßergebnissen in den verschiedenen Simulationsanlagen gezogen werden.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-1593.html