Options
2000
Conference Paper
Titel
Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern
Abstract
Zur Untersuchung der Gefährdung moderner Digital-Elektronik durch Hochleistungs-Mikrowellen wurden Testschaltungen aus modernen Einplatinen-Industrie-PCs mit Hochleistungs-Prozessoren aufgebaut, die vollkommen ohne Leitungsverbindungen arbeiten. Die Stromversorgung erfolgt über Akkumulatoren, die Datenverbindungen über Lichtwellenleitern. An diesen Testschaltungen wurden im INT-TEM-Wellenleiter und in der Moden-Verwirbelungs-Kammer der Universität Magdeburg Stör- und Ausfall-Schwellwerte mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen im Frequenzbereich 0,15...3,4 GHz ermittelt. Weiterhin konnten Vergleiche von Meßergebnissen in den verschiedenen Simulationsanlagen gezogen werden.
Author(s)
Language
German
Tags
-
Digital-Elektronik
-
Einplatinen-Industrie-PC
-
Prozessor-Platine
-
gepulste Hochleistungs-Mikrowellen
-
Pulsparameter
-
HPM
-
INT-TEM-Wellenleiter
-
Moden-Verwirbelungs-Kammer
-
Ausfall-Schwellwerte
-
Stör-Schwellwerte
-
Fehlermechanismus
-
digital electronic
-
single board computer
-
autonomous computer board
-
all-in-one CPU
-
high power microwave
-
TEM wave-guide
-
mode-stirred chamber
-
reverberating enclosure
-
failure threshold
-
disturbance threshold
-
failure mechanism