Fraunhofer-Gesellschaft

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Bedrohung moderner elektronischer Kommunikation durch Hochleistungs-Mikrowellen (HPM) - Ausfall-Schwellwerte von Mobil-Telefonen

 
: Braun, C.; Schmidt, H.U.; Taenzer, A.

Schwab, A.:
Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV 2002 : 10. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 9. - 11. April 2002, Messe Düsseldorf
Berlin: VDE-Verlag, 2002
ISBN: 3-8007-2684-X
pp.117-124
Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) <10, 2002, Düsseldorf>
German
Conference Paper
Fraunhofer INT ()
Hochleistungs-Mikrowellen; HPM; high power microwave; Ausfall-Schwellwerte; Stör-Schwellwerte; disturbance threshold; failure threshold; TEM wave-guide; TEM-Wellenleiter; Mobil-Telefon; mobile phone

Abstract
In diesem Beitrag werden die vom INT durchgeführten Untersuchungen der HPM-Verwundbarkeit von einigen ausgewählten Mobiltelefonen vorgestellt. Ziel der Untersuchungen ist es, die möglichen vorkommenden Stör- und Ausfall-Effekte in diesen Geräten sowie deren Folgen für ihre Aufgaben zu analysieren und die dazugehörigen Feldstärke-Ausfallschwellwerte zu bestimmen. Aus diesen Werten lässt sich dann ableiten, bei welcher Frequenz, in welchem Abstand und mit welcher Sendeleistung bzw. Antennengröße sich eine bestimmte Wirkung auf ein Gerät erzielen lässt.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-15384.html