Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

A test system for ensuring material reliability in micro- and nanoelectronics

 
: Wittler, O.; Auerswald, E.; Dermitzaki, E.; Gollhardt, A.; May, D.; Schmitz, S.; Wunderle, B.; Michel, B.

Michel, B. ; Leibniz-Instituts für interdisziplinäre Studien -LIFIS-, Niederwiesa:
NanoScience 2007. Volume of abstracts : 5th Leibniz Conference of Advanced Science. 18. bis 20. Oktober 2007, Lichtenwalde
Berlin: MMCB, 2007 (Micromaterials and Nanomaterials 7.2007)
pp.96-97
Conference of Advanced Science (NanoScience) <5, 2007, Lichtenwalde>
English
Conference Paper, Journal Article
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-143409.html