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2010
Journal Article
Titel
Digitale Mehrwellenlängen-Holografie für makroskopische Topografien in mikroskopischer Genauigkeit
Alternative
Digital multi-wavelength holography for macroscopic topographies with microscopic precision
Abstract
Optische Systeme für die Vermessung dreidimensionaler Oberflächen sind für die Inline-Inspektion oft zu langsam oder zu ungenau. Deshalb hat Fraunhofer IPM Inspektionssysteme entwickelt, die auf digitaler Mehrwellenlängen-Holografie basieren. Die Systeme zeichnen sich durch extrem kurze Messzeit und hohe Genauigkeit aus und sind daher für die 100-Prozent-Kontrolle in der Fertigungslinie geeignet.
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Optical systems for measuring three-dimensional surfaces are often too slow or too imprecise for inline inspection. That´s why Fraunhofer IPM has developed inspection systems based on multi-wavelength holography. Distinctive for their extremely short measuring times and high precision, the systems are suitable for 100 percent monitoring on production lines.