Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Digitale Mehrwellenlängen-Holografie für makroskopische Topografien in mikroskopischer Genauigkeit

Digital multi-wavelength holography for macroscopic topographies with microscopic precision
 
: Carl, D.; Fratz, M.; Höfler, H.

:

Technisches Messen : TM 77 (2010), No.9, pp.462-466
ISSN: 0340-837X
ISSN: 0171-8096 (Print)
ISSN: 2196-7113 (Online)
German
Journal Article
Fraunhofer IPM ()
Mehrwellenlängen-Holografie; Inline-Messtechnik; Topografiemesstechnik; optische Meßtechnik; Qualitätskontrolle; multi-wavelength holography; inline measurement; topography measurement; optical measurement; quality control

Abstract
Optische Systeme für die Vermessung dreidimensionaler Oberflächen sind für die Inline-Inspektion oft zu langsam oder zu ungenau. Deshalb hat Fraunhofer IPM Inspektionssysteme entwickelt, die auf digitaler Mehrwellenlängen-Holografie basieren. Die Systeme zeichnen sich durch extrem kurze Messzeit und hohe Genauigkeit aus und sind daher für die 100-Prozent-Kontrolle in der Fertigungslinie geeignet.

 

Optical systems for measuring three-dimensional surfaces are often too slow or too imprecise for inline inspection. That´s why Fraunhofer IPM has developed inspection systems based on multi-wavelength holography. Distinctive for their extremely short measuring times and high precision, the systems are suitable for 100 percent monitoring on production lines.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-141419.html