Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Zerstörungsfreie Beobachtung von Rissen in Leiterplattendurchkontaktierungen - Quantisierung der Risslänge mittels Impulsthermographie und FEM-Simulation

 
: Schacht, R.; Abo Ras, M.; May, D.; Wunderle, B.; Michel, B.; Reichl, H.

Lang, K.-D. ; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010 : Zuverlässigkeit und Systemintegration. Vorträge der 5. DVS/GMM-Tagung in Fellbach am 24. und 25. Februar 2010
Düsseldorf: DVS Media, 2010 (DVS-Berichte 265)
ISBN: 978-3-87155-277-9
ISSN: 0418-9639
pp.33-37
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <5, 2010, Fellbach>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-134065.html