Fraunhofer-Gesellschaft

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Eine neue Methode zur Charakterisierung und Detektion der Degradation von Die-Attach Materialien durch In-Situ Zustandsüberwachung der thermischen Eigenschaften

A new method for characterization and detection of degradation in die-attach materials by in-situ health monitoring of thermal properties
 
: Mazloum Nejadari, S.A.; Wittler, O.; Michel, B.

Lang, K.-D. ; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010 : Zuverlässigkeit und Systemintegration. Vorträge der 5. DVS/GMM-Tagung in Fellbach am 24. und 25. Februar 2010
Düsseldorf: DVS Media, 2010 (DVS-Berichte 265)
ISBN: 978-3-87155-277-9
ISSN: 0418-9639
pp.49-55
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) <5, 2010, Fellbach>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-134035.html