Ermitteln der Häufigkeitsverteilungen von Verzögerungszeiten digitaler Grundgatter infolge von Parameterschwankungen

In künftigen Technologien wird der Einfluss von Parameterschwankungen auf das Verhalten nanoelektronischer Schaltungen immer stärker. Um unter solchen Bedingungen eine hohe Produktqualität zu erreichen, werden statistische Methoden beim Entwurf und Test benötigt. In dieser Arbeit werden elektrische Fehlersimulationen unter Parameterschwankungen vorgestellt. Die auf der elektrischen Ebene erzielten Ergebnisse werden auf die Logikebene abstrahiert. Es wird eine Bibliothek für digitale Grundgatter aufgebaut. Von den Projektpartnern wird sie für Analysen und Simulationen auf der Logikebene verwendet, wie zum Beispiel für die statistische statische Timing-Analyse.