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Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen

Methodik und erste Ergebnisse
 
: Hopsch, F.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Haase, J.

:
Fulltext urn:nbn:de:0011-n-1230954 (750 KByte PDF)
MD5 Fingerprint: 35e88c0e38532e3b73969515e6740c95
Created on: 25.3.2010


VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-:
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 22. ITG/GI/GMM Workshop; 28. Februar - 2. März 2010, Paderborn
Paderborn: Universität Paderborn, 2010
pp.99-104
Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen <22, 2010, Paderborn>
German
Conference Paper, Electronic Publication
Fraunhofer IIS, Institutsteil Entwurfsautomatisierung (EAS) ()
elektrische Fehlersimulation; Parametervariation; Verzögerungszeit; Histogramm; Häufigkeitsverteilung

Abstract
Der Einfluss von Parameterschwankungen auf das Verhalten nanoelektronischer digitaler CMOS-Schaltungen nimmt in zukünftigen Technologien mit verringerten Strukturweiten deutlich zu. Es ist deshalb notwendig, statistische Methoden für die Validierung der funktionellen Eigenschaften zu verwenden. In dieser Arbeit stellen wir ein Verfahren zur Abstraktion der Effekte von auf der elektrischen Ebene injizierten Fehlern unter Parameterschwankungen auf die logische Ebene vor. Basis ist ein Fehlersimulator auf der elektrischen Ebene, der Parameterschwankungen einbeziehen kann. Es wird eine Bibliothek für digitale Grundgatter unter Fehlereinwirkungen und Parameterschwankungen aufgebaut. Die in der Bibliothek enthaltenen Informationen sollen für Simulationen auf der Logikebene verwendet werden. Die Abstraktion von der elektrischen auf die Logikebene erfolgt dabei durch das Bestimmen der Verzögerungszeiten der fehlerbehafteten Grundgatter unter Parameterschwankungen. Die Methodik der Fehlersimulation und erste Ergebnisse werden vorgestellt.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-123095.html