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2010
Conference Paper
Titel
Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen
Titel Supplements
Methodik und erste Ergebnisse
Abstract
Der Einfluss von Parameterschwankungen auf das Verhalten nanoelektronischer digitaler CMOS-Schaltungen nimmt in zukünftigen Technologien mit verringerten Strukturweiten deutlich zu. Es ist deshalb notwendig, statistische Methoden für die Validierung der funktionellen Eigenschaften zu verwenden. In dieser Arbeit stellen wir ein Verfahren zur Abstraktion der Effekte von auf der elektrischen Ebene injizierten Fehlern unter Parameterschwankungen auf die logische Ebene vor. Basis ist ein Fehlersimulator auf der elektrischen Ebene, der Parameterschwankungen einbeziehen kann. Es wird eine Bibliothek für digitale Grundgatter unter Fehlereinwirkungen und Parameterschwankungen aufgebaut. Die in der Bibliothek enthaltenen Informationen sollen für Simulationen auf der Logikebene verwendet werden. Die Abstraktion von der elektrischen auf die Logikebene erfolgt dabei durch das Bestimmen der Verzögerungszeiten der fehlerbehafteten Grundgatter unter Parameterschwankungen. Die Methodik der Fehlersimulation und erste Ergebnisse werden vorgestellt.
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