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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten. Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zur Simulation
| Scheel, W. ; Deutscher Verband für Schweißen und Verwandte Verfahren e.V. -DVS-; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-: Elektronische Baugruppen. Aufbau- und Fertigungstechnik : Die Trends von heute - die Chancen von morgen. Vorträge der DVS/GMM-Fachtagung vom 4. bis 5. Februar 2004 in Fellbach. 2. Fachtagung "Elektronische Baugruppen - Aufbau und Verbindungstechnik" Berlin: VDE-Verlag, 2004 (GMM-Fachbericht 44) ISBN: 3-8007-2813-3 pp.99-102 |
| Fachtagung Elektronische Baugruppen - Aufbau und Verbindungstechnik <2, 2004, Fellbach> |
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| German |
| Conference Paper |
| Fraunhofer IZM () |