Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Reliablility of SnPb and Pb-Free Flip-Chips under Different Test Conditions

 
: Spraul, M.; Nüchter, W.; Möller, A.; Wunderle, B.; Michel, B.

Microelectronics reliability 47 (2007), No.2-3, pp.252-258
ISSN: 0026-2714
English
Journal Article
Fraunhofer IZM ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-120564.html