English
Deutsch
Log In
Password Login
or
Log in with Fraunhofer Smartcard
Research Outputs
Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Konferenzschrift
Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik im Mikro- und Nanobereich
Details
Full
Export
Statistics
Options
2005
Conference Paper
Titel
Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik im Mikro- und Nanobereich
Author(s)
Michel, B.
Keller, J.
Hauptwerk
Herausforderungen neuer Werkstoffe an die Forschung und Werkstoffprüfung
Konferenz
Vortrags- und Diskussionstagung Werkstoffprüfung 2005
Language
German
google-scholar
View Details
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM