Fraunhofer-Gesellschaft

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IT-gestützte White-Spot-Analyse

Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen
 
: Siwczyk, Y.
: Spath, D.

:
Fulltext urn:nbn:de:0011-n-1188348 (5.2 MByte PDF)
MD5 Fingerprint: ef054536b623bb2bcd4ddf5df314c40c
Created on: 19.3.2014

:

Stuttgart: Fraunhofer Verlag, 2010, 65 pp.
ISBN: 3-8396-0091-X
ISBN: 978-3-8396-0091-7
German
Study, Electronic Publication
Fraunhofer IAO ()
produzierendes Unternehmen; Fachleute; Patent; semantische Suche; IT-Technik; Elektromobilität; Patentinformation

Abstract
Weiße Flecken auf geografischen Landkarten waren über Jahrhunderte hinweg Impulsgeber für technologischen Fortschritt. Auch heute noch suchen Forscher und Entwickler nach weißen Flecken auf der "Landkarte" technischer Innovationen - im Rahmen sogenannter Patentdatenanalysen. Die vorliegende Studie stellt in drei Kapiteln Methoden und Werkzeuge vor, mit deren Hilfe aus Patenttexten Potenziale für die Märkte von morgen extrahiert werden können. Die IT-gestützte White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO bietet dabei über gängige Analysemethoden hinaus die Möglichkeit, technische "White Spots" automatisiert aus Patenttexten zu extrahieren und diese an Hand wirtschaftlicher Daten auf ihre Potenziale für ein Unternehmen zu untersuchen. Abgerundet wird die Vorstellung der White-Spot-Analyse durch ein Praxisbeispiel zum aktuellen Thema Elektromobilität, speziell Batteriemanagementsystemen für Elektrofahrzeuge. Die Studie richtet sich an Unternehmen, die nach neuen Produktideen und Märkten suchen sowie IP-Management-Experten.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-118834.html