Fraunhofer-Gesellschaft

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Charakterisierung plasma-modifizierter Polymere mittels SSXPS und XPS-Imaging

SSXPS and XPS-Imaging on plasmamodified polymers
 
: Vohrer, U.; Hegemann, D.; Oehr, C.; Brunner, H.

:

Vakuum in Forschung und Praxis (2000), No.2, pp.118-121 : Ill., Lit.
ISSN: 0947-076X
ISSN: 1522-2454
German
Journal Article
Fraunhofer IGB ()

Abstract
For many years now, engineering polymers with tailor~made surface properties are of widespread interest. One of the most commonly used technique to functionalize or coat polymers is the plasma technique. One of the most important reasons is the possibility to tailor the surface properties without alteration of the versatile bulk properties. Many engineering polymers applied in medical equipment, life-science, and biotechno~ logical purposes demand monofunctionalized and structured surfaces. Those can be obtained with appropriate process parameters. The characterization of such tailored surfaces as well as of surfaces with structured functionality can be performed by several analytical techniques. Besides AFM and FTIR the photoelectron spectroscopy (XPS, ESCA) is used.

 

Polymere Werkstoffe mit maßgeschneiderten Oberflächeneigenschaften stehen seit vielen Jahren im Mittelpunkt der Forschung und Entwicklung. Eine häufig genutzte Technik zur Funktionalisierung und Beschichtung von Polymeren stellt dabei die Plasmatechnik dar. Ausschlaggebend dafür ist, dass mit diesem Verfahren Kunststoffe, die nass-chemisch nur schwer oder gar nicht zu modifizieren sind, ohne Beeinträchtigung der gewünschten Volumeneigenschaften gezielt an der Oberfläche funktionalisiert bzw. haftfest beschichtet werden können. Der Einsatz technischer Polymere im Bereich Medizintechnik, life-science und Biotechnologie fordert zudem monofunktionalisierte und strukturierte Oberflächen die ebenfalls durch geeignete Prozeßführung generiert werden können. Zur Charakterisierung dieser maßgeschneiderten Oberflächen stehen verschiedene analytische Verfahren zur Verfügung. Neben AFM und FTIR kommt hier vor allem auch die Röntgenfotoelektronenspektroskopie (XPS, ESCA) zum Einsatz.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/B-61591.html