Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2009Analyse unterschiedlicher Modellierungsvarianten des "Direct Power Injection" Verfahrens für die EMV Charakterisierung integrierter Schaltungen
Stürmer, U.; Ritzmann, S.; Jovic, O.; Wilkening, W.
Zeitschriftenaufsatz
2009Susceptibility of PMOS transistors under high RF excitations at source Pin
Jovic, O.; Stuermer, U.; Wilkening, W.; Baric, A.; Maier, C.
Konferenzbeitrag
2007Evaluation of Different Steady-State Simulation Methods for EMI Analyses of ICs
Stürmer, U.; Thomas, G.; Ritzmann, S.; Jovic, O.; Wilkening, W.; John, W.
Konferenzbeitrag
2006Transient analysis of ESD protection elements by time domain transmission using repetitive pulses
Wolf, H.; Gieser, H.; Stadler, W.; Wilkening, W.; Rose, P.; Qu, N.
Konferenzbeitrag
2005Capacitively coupled transmission line pulsing cc-TLP - a traceable and reproducible stress method in the CDM-domain
Wolf, H.; Gieser, H.; Stadler, W.; Wilkening, W.
Zeitschriftenaufsatz
2005ESD-Schutztransistor
Wolf, H.; Wilkening, W.; Mettler, S.
Patent
2005Test circuits for fast and reliable assessment of CDM robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, V. de; Natarajan, M.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Zeitschriftenaufsatz
2004Capacitively Coupled Transmission Line Pulsing CC-TLP - A Traceable and Reproducible Stress Method in the CDM-Domain
Wolf, H.; Gieser, H.; Stadler, W.; Wilkening, W.
Zeitschriftenaufsatz
2004Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress
Willemen, J.; Andreini, A.; Heyn, V. de; Esmark, K.; Etherton, M.; Gieser, H.; Groeseneken, G.; Mettler, S.; Morena, E.; Qu, N.; Soppa, W.; Stadler, W.; Stella, R.; Wilkening, W.; Wolf, H.; Zullino, L.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2004Study of CDM Specific Effects for a Smart Power Input Protection Structure
Etherton, M.; Qu, N.; Willemen, J.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Dissegna, M.; Stella, R.; Zullino, L.; Andreini, A.; Gieser, H.; Wolf, H.; Fichtner, W.
Konferenzbeitrag
2003Electrical characterisation of a power SO-package in the context of electrostatic discharge
Dörr, I.; Gieser, H.A.; Sommer, G.; Wolf, H.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Andreini, A.; Salhi, F.; Fotheringham, G.; John, W.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
2003Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, M. de; Natarajan, M.I.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Konferenzbeitrag
2002ESD-level circuit simulation impact of interconnect RC-delay on HBM and CDM behavior
Mergens, M.P.J.; Wilkening, W.; Kiesewetter, G.; Mettler, S.; Wolf, H.; Hieber, E.; Fichtner, W.
Zeitschriftenaufsatz
2002ESD-Schutzvorrichtung für integrierte Schaltungen
Wilkening, W.; Wolf, H.
Patent
2000Analysis of lateral DMOS power devices under ESD stress conditions
Mergens, M.P.J.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Wolf, H.; Stricker, A.; Fichtner, W.
Zeitschriftenaufsatz
2000Analyzing the switching behavior of ESD-protection transistors by very fast transmission line pulsing
Wolf, H.; Gieser, H.; Wilkening, W.
Zeitschriftenaufsatz
2000Modular approach of a high current MOS compact model for circuit-level ESD simulation including transient gate-coupling behaviour
Mergens, M.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Wolf, H.; Fichtner, W.
Zeitschriftenaufsatz
1999Analysis and compact modeling of lateral DMOS power devices under ESD stress conditions
Mergens, M.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Wolf, H.; Stricker, A.; Fichtner, W.
Konferenzbeitrag
1999Analyzing the switching behavior of ESD-Protection transistors by very fast transmission line pulsing
Wolf, H.; Gieser, H.; Wilkening, W.
Konferenzbeitrag
1999Characterization and optimization of a bipolar ESD-device by measurements and simulations
Stricker, A.D.; Mettler, S.; Wolf, H.; Mergens, M.; Wilkening, W.; Gieser, H.; Fichtner, W.
Zeitschriftenaufsatz
1999Modular approach of a high current MOS compact model for ESD circuit level simulation
Mergens, M.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Wolf, H.; Fichtner, W.
Konferenzbeitrag
1992Electron spin resonance studies of transition metal deep level impurities in SiC.
Maier, K.; Schneider, J.; Wilkening, W.; Leibenzeder, S.; Stein, R.
Zeitschriftenaufsatz
1992Magnetic resonance of x-point shallow donors in AlSb-Te bulk crystals and AlSb MBE layers.
Wilkening, W.; Kaufmann, U.; Schneider, J.; Schönherr, E.; Glaser, E.R.; Shanabrook, B.V.; Waterman, J.R.; Wagner, R.J.
Zeitschriftenaufsatz
1991Electron paramagnetic resonance of the shallow Sn donor in GaAs/Al0.68Ga0.32As-Sn heterostructures.
Wilkening, W.; Bauser, E.; Kaufmann, U.
Zeitschriftenaufsatz
1991Spin-Resonanz von delokalisierten und lokalisierten Elektronen in III-V Halbleitern
Wilkening, W.
Dissertation
1990Electron paramagnetic resonance of the shallow Si donor in indirect GaAs/AlxGa1-xAs heterostructures.
Wilkening, W.; Kaufmann, U.
Konferenzbeitrag
1990Evidence of piezo-electric effect in ESR of n-InP.
Wenger, G.; Rössler, U.; Wilkening, W.
Konferenzbeitrag
1990Infrared spectra and electron spin resonance of vanadium deep level impurities in silicon carbide
Schneider, J.; Müller, H.D.; Maier, K.; Wilkening, W.; Fuchs, F.; Leibenzeder, S.; Stein, R.; Dörnen, A.
Zeitschriftenaufsatz
1990Strain splitting of the X-conduction-band valleys and quenching of spin-valley interaction in indirect GaAs/Al(x)Ga(1-x)As:Si heterostructures
Wilkening, W.; Mooney, P.M.; Kuech, T.F.; Kaufmann, U.
Zeitschriftenaufsatz
1989Effect of nuclear polarization on the conduction-electron spin resonance in InP
Clerjaud, B.; Gendron, F.; Obloh, H.; Schneider, J.; Wilkening, W.
Zeitschriftenaufsatz
1989Electron parametric-resonance measurements of Si-donor-related levels in Al(x)Ga(1-x)As
Mooney, P.M.; Wilkening, W.; Kuech, T.F.; Kaufmann, U.
Zeitschriftenaufsatz
1987Electronic structure of the neutral manganese acceptor in gallium arsenide
Schneider, J.; Wilkening, W.; Baeumler, M.; Köhl, F.; Kaufmann, U.
Zeitschriftenaufsatz
1987Photoresponse of the FR3 electron-spin-resonance signal in GaAs
Wilkening, W.; Baeumler, M.; Kaufmann, U.
Zeitschriftenaufsatz
1986New omnipresent electron paramagnetic resonance signal in as-grown semi-insulating liquid encapsulation Czochralski GaAs
Baeumler, M.; Wilkening, W.; Kaufmann, U.; Windscheif, J.
Zeitschriftenaufsatz
1986Photo-EPR of defects in undoped semiinsulating GaAs
Baeumler, M.; Wilkening, W.; Kaufmann, U.; Windscheif, J.
Konferenzbeitrag