Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2013Ein Ansatz zur Verifikation von Materialflusssystemen durch Model Checking
Turek, Karsten; Klotz, Thomas; Schmidt, Thorsten; Straube, Bernd
Konferenzbeitrag
2013Automated formal verification of routing in material handling systems
Klotz, Thomas; Schönherr, Jens; Seßler, Norman; Straube, Bernd; Turek, Karsten
Zeitschriftenaufsatz
2013Formale Verifikation von Materialflusssystemen
Turek, Karsten; Klotz, Thomas; Straube, Bernd
Konferenzbeitrag
2013Modeling and verification of material handling systems
Klotz, Thomas
: Spallek, Rainer G. (Erstgutachter); Eveking, Hans (Zweitgutachter); Straube, Bernd (Fachreferent)
Dissertation
2012Ein Ansatz zur Verifikation von Materialflusssteuerungen
Klotz, Thomas; Straube, Bernd; Fordran, Eva; Seßler, Norman; Haufe, Jürgen; Schulze, Frank
Konferenzbeitrag
2012Compositional verification of material handling systems
Klotz, Thomas; Seßler, Norman; Straube, Bernd; Fordran, Eva; Turek, Karsten; Schönherr, Jens
Konferenzbeitrag
2012On the formal verification of routing in material handling systems
Klotz, Thomas; Seßler, Norman; Straube, Bernd; Fordran, Eva; Turek, Karsten; Schönherr, Jens
Konferenzbeitrag
2012Testentwicklung für digitale Schaltungen unter Verwendung von elektrischer Fehlersimulation
Hopsch, Fabian; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang; Vierhaus, Heinrich Theodor
Konferenzbeitrag
2011An approach to the verification of material handling systems
Klotz, Thomas; Straube, Bernd; Fordran, Eva; Haufe, Jürgen; Schulze, Frank; Turek, Karsten; Schmidt, Thorsten
Konferenzbeitrag
2011Characterization of digital cells for statistical test
Hopsch, F.; Lindig, M.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2011Characterization of digital cells for statistical test
Hopsch, Fabian; Lindig, Michael; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2011Toward verification of material handling systems
Klotz, Thomas; Straube, Bernd; Fordran, Eva; Haufe, Jürgen; Schulze, Frank; Turek, Karsten; Schmidt, Thorsten
Konferenzbeitrag
2011Variation-aware fault modeling
Hopsch, F.; Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Wunderlich, H.-J.
Zeitschriftenaufsatz
2010Applying electric fault simulation for deriving tests for through-silicon vias
Gulbins, Matthias; Hopsch, Fabian; Schneider, Peter; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2010Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures
Gulbins, M.; Hopsch, F.; Schneider, P.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2010Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen
Hopsch, F.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Haase, J.
Konferenzbeitrag
2010Ermitteln der Häufigkeitsverteilungen von Verzögerungszeiten digitaler Grundgatter infolge von Parameterschwankungen
Hopsch, F.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2010Massive statistical process variations
Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Wunderlich, H.-J.
Konferenzbeitrag
2010Variation-aware fault modeling
Hopsch, F.; Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Wunderlich, H.-J.
Konferenzbeitrag
2009Fehleranalyse von Kurzschlüssen in DRAM Wortleitungstreibern durch Extraktion von Layout Parasitics und DeltaIDD3N Messungen
Versen, M.; Ertl, F.; Diaconescu, D.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Hopsch, F.
Konferenzbeitrag
2009Formal verification of UML-modeled machine controls
Klotz, T.; Fordran, E.; Straube, B.; Haufe, J.
Konferenzbeitrag
2009Formal verification of UML-modeled machine controls
Klotz, T.
: Straube, B.; Schüffny, R. (Prüfer)
Diplomarbeit
200811th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2008
: Straube, B.; Drutarovský, M.; Renovell, M.; Gramata, P.; Fischerová, M.
Tagungsband
2008Fehleranalyse für DRAM Teilschaltungen durch Extraktion von Layout Parasitics
Versen, M.; Knezevic, J.; Montoya, S.M.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2008Foreword to the 11th IEEE DDECS Workshop
Renovell, M.; Straube, B.; Gramata, P.; Drutarovsky, M.; Ubar, R.; Fischerová, M.
Konferenzbeitrag
2008Histogramm-Test - Untersuchungen zu Bin-Coder-Anwendungen
Sattler, S.; Gulbins, M.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2008Semi-formal verification of the steady state behavior of mixed-signal circuits by SAT-based property checking
Schönherr, J.; Freibothe, M.; Straube, B.; Bormann, J.
Konferenzbeitrag
2008Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
Coym, T.; Hellebrand, S.; Ludwig, S.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.; Zöllin, C.G.
Konferenzbeitrag
2007Layout-oriented fault analysis for DRAM design components
Versen, M.; Knezevic, J.; Montoya, S.M.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2007A refined electrical model for particle strikes and its impact on SEU prediction
Coym, T.; Hellebrand, S.; Ludwig, S.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.; Zöllin, C.G.
Konferenzbeitrag
2007Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
Becker, B.; Polian, I.; Hellebrand, S.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.
Konferenzbeitrag
2007Testing and monitoring nanoscale systems - Challenges and strategies for advanced quality assurance
Hellebrand, S.; Zöllin, C.G.; Wunderlich, H.J.; Ludwig, S.; Coym, T.; Straube, B.
Zeitschriftenaufsatz
2007Verification-oriented behavioral modeling of nonlinear analog parts of mixed-signal circuits
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006Ein Ansatz für die semi-formale Verifikation von Mixed-Signal-Schaltungen mit Hilfe von Bounded Model Checking
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Fordran, E.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.
Zeitschriftenaufsatz
2006Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration - possibilities and limitations
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Fault diagnosis of analog integrated circuits using an analog fault simulator
Straube, B.; Vermeiren, W.; Coym, T.; Lindig, M.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Fehlerdiagnose von Analogschaltungen unter Verwendung eines analogen Fehlersimulators
Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Coym, T.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Formal Verification of the Quasi-Static Behavior of Mixed-Signal Circuits by Property Checking
Freibothe, M.; Schönherr, J.; Straube, B.
Zeitschriftenaufsatz
2006Kennlinienmethode zur DC-Fehlerdiagnose integrierter Analogschaltungen
Claus, M.; Reibiger, A.; Coym, T.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Lokalisieren von Hardwarefehlern in Analogschaltungen mittels analoger Fehlersimulation
Coym, T.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Modellierung des dynamischen Verhaltens nichtlinearer analoger Komponenten für die semi-formale Mixed-Signal-Verifikation
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Straube, B.; Ludwig, S.
Konferenzbeitrag
2006A network theoretical approach to analog DC-fault diagnosis
Claus, M.; Coym, T.; Reibiger, A.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrierten Schaltungen - Möglichkeiten und Grenzen
Kothe, R.; Habermann, S.; Vierhaus, H.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Simulatorgestützte Verhaltensmodellierung nichtlinearer analoger Komponenten für die semi-formale Mixed-Signal-Verifikation
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006Untersuchung der Wirkung von Strahlungsteilchen auf digitale CMOS-Schaltungen
Ludwig, S.
: Straube, B. (Prüfer); Schüffny, R. (Prüfer)
Diplomarbeit
2006Verification-oriented behavioral modeling of non-linear analog parts of mixed-signal circuits
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2004Fault tolerant mechatronics
Straube, B.; Dilger, E.; Karrelmeyer, R.
Konferenzbeitrag
2004Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
: Straube, B.
Tagungsband
2003Fehlertolerante Lenkwinkelgeber
Dilger, Elmar; Gulbins, Matthias; Ohnesorge, Thomas; Straube, Bernd
Konferenzbeitrag
2003Generierung von Gleichstromtests für nichtlineare Analogschaltungen unter Verwendung von Nullatoren und Noratoren
Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2003On a redundant diversified steering angle sensor
Dilger, Elmar; Gulbins, Matthias; Ohnesorge, Thomas; Straube, Bernd
Konferenzbeitrag
2002Formal verification of digital circuits at register transfer level using reachability analysis
Schönherr, J.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2002Multi-level hierarchical analogue fault simulation
Straube, B.; Vermeiren, W.; Spenke, V.
Zeitschriftenaufsatz
2001Combining functional and parametric tests for the example of a digital to analog converter
Wegener, C.; Kennedy, M.-P.; Müller, B.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2001DAE-index increase in analogue fault simulation
Straube, B.; Reinschke, K.; Vermeiren, W.; Röbenack, K.; Müller, B.; Clauß, C.
Konferenzbeitrag
2001Process deviations and spot defects: Two aspects of test and test development for mixed-signal circuits
Wegener, C.; Kennedy, M.P.; Straube, B.
Zeitschriftenaufsatz
2001Symbolical index calculation for linear circuits
Clauß, C.; Schwarz, P.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Zeitschriftenaufsatz
2000Analogue fault simulation by aFSIM
Straube, B.; Müller, B.; Vermeiren, W.; Hoffmann, C.; Sattler, S.
Konferenzbeitrag
2000Automatic equivalence check of circuit descriptions at clocked algorithmic and register transfer level
Schönherr, J.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2000Formale Verifikation des Entwurfs einer Steuereinrichtung mittels Modelchecking
Fordran, E.; Schönherr, J.; Straube, B.; Donath, U.
Konferenzbeitrag
2000Symbolically calculated higher index conditions for linear circuits
Clauß, C.; Schwarz, P.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
1999Automatic generation of efficient fault lists for the defect-oriented design and test of analogue circuits
Straube, B.; Müller, B.; Hoffmann, C.; Sattler, S.; Schmid, H.
Konferenzbeitrag
1999The increase of the index of network equations due to fault injection
Straube, B.; Vermeiren, W.; Müller, B.; Clauß, C.; Reinschke, K.; Röbenack, K.
Konferenzbeitrag
1999On the fault-injection-caused increase of the DAE-index in analogue fault simulation
Straube, B.; Reinschke, K.; Vermeiren, W.; Röbenack, K.; Müller, B.; Clauß, C.
Konferenzbeitrag
1999A simulation approach to evaluate and assess dependability properties of integrated mechatronic systems
Straube, B.; Vermeiren, W.; Großpietsch, K.-E.; Voges, U.
Konferenzbeitrag
1996Applying behavioural level test generation to high-level design validation
Gulbins, M.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
1996Defect-oriented experiments in fault modelling and fault simulation of microsystem components
Vermeiren, W.; Straube, B.; Holubek, A.
Konferenzbeitrag