Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2009Design of highly-efficient GaN x-band-power-amplifier MMICs
Kühn, J.; Raay, F. van; Quay, R.; Kiefer, R.; Maier, T.; Stibal, R.; Mikulla, M.; Seelmann-Eggebert, M.; Bronner, W.; Schlechtweg, M.; Ambacher, O.; Thumm, M.
Konferenzbeitrag
2006220 GHz low-noise amplifier modules for radiometric imaging applications
Tessmann, A.; Leuther, A.; Kuri, M.; Massler, H.; Riessle, M.; Essen, H.; Stanko, S.; Sommer, R.; Zink, M.; Stibal, R.; Reinert, W.; Schlechtweg, M.
Konferenzbeitrag
2003Nondestructive topographic resistivity evaluation of semi-insulating SiC substrates
Stibal, R.; Müller, S.; Jantz, W.; Pozina, G.; Magnusson, B.; Ellison, A.
Zeitschriftenaufsatz
2002Contactless electron mobility evaluation of semi-insulating GaAs and InP wafers
Stibal, R.; Kretzer, U.; Jantz, W.
Konferenzbeitrag
2002Topographic electrical characterization of semi-insulating GaAs, InP and SiC substates
Stibal, R.; Müller, S.; Jantz, W.
Konferenzbeitrag
2002Verfahren und Vorrichtung zur Ueberpruefung elektrischer Materialeigenschaften
Jantz, W.; Stibal, R.
Patent
2000Quantitative topographic assessment of Cu incorporation in GaAs
Baeumler, M.; Stibal, R.; Stolz, W.; Steinegger, T.; Jurisch, M.; Maier, M.; Jantz, W.
Zeitschriftenaufsatz
1999Contactless mapping of mesoscopic resistivity variations in semi-insulating substrates
Stibal, R.; Wickert, M.; Hiesinger, P.; Jantz, W.
Zeitschriftenaufsatz
1999High resolution EL2 and resistivity topography of Si GaAs wafers
Wickert, M.; Stibal, R.; Hiesinger, P.; Jantz, W.; Wagner, J.; Jurisch, M.; Kretzer, U.; Weinert, B.
Konferenzbeitrag
1998Investigation of degraded laser diodes by chemical preparation and luminescence microscopy
Baeumler, M.; Weyher, J.L.; Müller, S.; Jantz, W.; Stibal, R.; Herrmann, G.; Luft, J.; Sporrer, K.; Späth, W.
Konferenzbeitrag
1993Contactless resistivity mapping of semi-insulating substrates.
Jantz, W.; Stibal, R.
Zeitschriftenaufsatz
1993Nondestructive high resolution resistivity topography of semi-insulating GaAs and InP wafers
Jantz, W.; Stibal, R.; Windscheif, J.; Mosel, F.; Müller, G.
Konferenzbeitrag
1991Contactless evaluation of semi-insulating GaAs wafer resistivity using the time-dependent measurement.
Stibal, R.; Jantz, W.; Windscheif, J.
Zeitschriftenaufsatz
1991Variation of material parameters along the growth direction of liquid encapsulated Czochralski grown GaAs ingots
Stibal, R.; Jantz, W.; Wagner, J.; Windscheif, J.
Zeitschriftenaufsatz
1989Magnetometer
Frey, T.; Jantz, W.; Stibal, R.
Patent
1988Compensating vibrating reed magnetometer.
Frey, T.; Stibal, R.; Jantz, W.
Zeitschriftenaufsatz